OMCL-AC240TN 轻敲无镀层软探针 硅探针

 

 

带有“新概念芯片”的新型 OMCL-AC240 系列悬臂
专为空气中的 AC 模式 AFM 设计，用于观察软样品的形貌和粘弹性。

 

突出特点

1. 用于软样品测量的小弹簧常数

2. 用低电阻率硅测量表面电位

（新型硅悬臂系列的共同特点）

3. 理想的点终止探头

4. 广受好评的“TipView”结构

5. 反面铝涂层

6. 易于处理芯片：“新概念芯片”

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更多关于新的 OMCL-AC240 系列

1. 用于软样品测量的小弹簧常数

2 N/m（Typ.）的弹簧常数是我们用于交流模式的硅悬臂梁中最小的，适用于观察软样品的表面形貌和粘弹性。

2. 用低电阻率硅测量表面电位

悬臂基材采用 N 型掺杂硅，表面电阻为 0.01-0.02 Ω·cm（我们其他基材表面电阻的 1/200）。这可以用于测量表面电位和其他应用。

3. 针尖位于探头的末端

四面体探头的末端是针尖。
从正面看，四面体探针显示出良好的对称性。考虑几何特征，选择快速扫描（X）方向。检查扫描线轮廓和尖端顶点的放大视图。

Patterned Sapphire Substrate 9 µm x 9 µm
Sample, courtesy of MAXIS, Korea

4. 广受好评的“TipView”结构

由于“TipView”结构，探头可以轻松定位在您感兴趣的确切点上。
探头位于悬臂的确切末端，因此在光学观察过程中探头顶点不会被遮挡。

5. 铝涂层反射面

悬臂上涂有100nm厚的铝薄膜，用于反射AFM设备中偏转传感器的光线。可以预期高 S/N 感测的高反射。

6. 易于处理芯片：“新概念芯片”

切屑的理想垂直侧壁使镊子易于使用并消除碎屑和碎屑问题。

 

AC-240TS 应用

原位沉积
采用银胶(EPO-TEKH20E)作为电极与探针的接触。用能量色散X射线能谱(EDAX)测量了沉积的元素组成.在AFM下进行了纳米压痕。AFM探针为OMCL-AC240TS-R3，弹性系数为2N/m。

参考文献https://www.nature.com/articles/s41467-020-19210-0

 

粗糙度表征

用原子力显微镜测量了钨片的粗糙度。测量的均方根粗糙度为15 nm，最大粗糙度尺度为195 nm，测量值超过300 m。2。测试采用原子力显微镜在空气中使用奥林巴斯硅探针(OMCL-AC240TS-R3，70 kHz，2N/m)。
参考文献https://www.nature.com/articles/s41467-017-01010-8
 

原子力显微镜下的形貌和尺寸分布分析

用扫描探针显微镜动态分析了CA-[GLC]复合物的形貌和尺寸分布，并配备了微悬臂(OMCL-AC240TS-R3，olympus)。所有样品经空气干燥5 min后，在云母衬底上进行分析；
参考文献https://www.nature.com/articles/srep07742

原子力显微镜FM模式
在室温(23~25°C)下，用原子力显微镜(AFM)，使用fm模式，因为它在水中具有很高的力敏性，并且比其他运行模式更精确地测量了inbs和其他流体结构的表面轮廓。在成像开始之前，用10-20分钟来调整成像条件。另外，对于某些提示，在FM模式下可能无法实现稳定的工作。在PF模式下，AFM可在水沉积后5~10 min内开始，易于实现稳定的成像。采用奥林巴斯公司的Si悬臂梁(OMCL-AC240TS)，弹性系数为0.7~3.8N/m，探针尖端半径为10 nm，水中共振频率为30 kHz。在调频模式下，振荡幅度保持在1.0~1.5nm，设定点为13~20 Hz。
参考文献 https://www.nature.com/articles/srep24651

AFM对植物类囊膜的分析
A mica disc attached to a slide glass using a two-component araldite glue (Devcon Epoxy; ITW) was used as a support. The freshly cleaved mica surface was immediately covered by 40 μL of adsorption buffer (10 mM Tris, pH 7.3/HCl, 150 mM KCl, 20 mM MgCl2) as described previously55. Then, 20 μL of freshly prepared thylakoid membrane solution (0.25 μg Chl/μL) was added to the adsorption buffer on the mica surface and incubated for 10 min. The mica surface was gently rinse with 1 mL of MilliQ water and blown by nitrogen stream to remove excess water. AFM images were acquired by using a commercial MFP-3D Stand Alone AFM in tapping mode in air (Asylum Research). Silicon cantilevers with a length of 240 μm (k = 2 N/m; OMCL-AC240TS-C2, Olympus) were used. AFM data were analyzed by using the Asylum Research AFM IGOR Pro software (Wavemetrics). Averaged height was calculated from the membrane areas of at least 50 μm².
参考文献https://www.nature.com/articles/srep02833

原子力显微镜在纳米药物颗粒中的应用
AFM对Polystyrene Nanoparticles Obtained 的表征